

表面成分分析技术-XPS测试分析
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项目简介
XPS测试注意事项
1. XPS可以做的项目:常规全谱窄谱测试,俄歇谱,价带谱,深度溅射,MAPPING,角分辨
2. XPS测试的元素范围是Li-Cm, H,He元素不能测试
3. XPS数据分析可以等到元素的价态及半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号。
4. 无特殊说明,默认是使用单色化AlKa源(Mono AlKa)能量是1486.6eV
5. 使用Al Kα X-ray会出现的重叠谱峰,当有重叠谱峰的时候直接定量的结果不能参考。下方是常见的一些重叠谱峰的情况,解决方法是a.通过分峰拟合(这个是数据分析的内容)后再重新定量,b.测试其他轨道的峰,需要备注相应的轨道,默认是测试最强峰,c.如果是与部分元素的俄歇峰重叠,建议可以更换靶材试试,比如Mg靶。
常见重叠谱峰有Li1s&Co3p;B1s&P2s;C1s&Ru3d5/2,Ru3d3/2;C1s&K2p;O1s&NaKLL;O1s&Pd3p3/2;O1s&Sb3d5/2;N1s&Mo3p3/2;N1s&GaLMM;Al2p&Pt4f5/2;Si2p&Pt5s;Mo3d5/2&S2s;Ta4f&O2s;Co2p&FeLMM;Mn2p&NiLMM;W4f&Zr4p;Al2p&Cu3p。
6.xps测试数据提供原始数据,不做任何矫正,不同材料的矫正方法不同,可以提供矫正操作的视频。
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