项目简介
测试目的及应用场景：
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，主要用于确定材料中元素的种类和含量。XRF是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学等。
测试原理：
XRF技术的基本原理可以分为两部分：原子的激发和荧光的产生。
1、原子的激发
当高速运动的粒子（如电子、质子或离子）穿过原子时，会将能量传递给原子，使原子内部的电子从低能级跃迁到高能级，这个过程称为激发。激发后的原子处于不稳定状态，电子会迅速从高能级向低能级跃迁，释放出多余的能量。
2、荧光的产生
当原子从激发态向基态跃迁时，会释放出一定能量的射线，这种射线称为荧光射线。不同元素的原子产生的荧光射线具有不同的能量特征，因此可以通过测量荧光射线的能量来确定样品中存在的元素。
测试步骤：
X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成：激发系统，分光系统，探测系统，仪器控制和数据处理系统。
（1）激发系统 主要部件为X射线管，可以发出原级X射线（一次X射线），用于照射样品激发荧光X射线 ；
（2）分光系统 对来自样品待测元素发出的特征荧光X射线进行分辨（主要为分光晶体）；
（3）探测系统 对样品待测元素的特征荧光X射线进行强度探测；
（4）仪器控制和数据处理系统 处理探测器信号，给出分析结果；
以日本ZSX Primus III+为例，一般测试步骤为：
1.将待测样品研磨成细粉；
2.用压片机将样品粉末压制成薄片，
3.将制好的样品薄片放入X射线荧光光谱仪的样品盘中，设置仪器参数，如电压、电流、时间等.
4.打开仪器，开始测量。仪器会自动记录样品的特征X射线波长和强度；
5.仪器根据元素谱线强度自动换算元素含量。
配套服务
常见问题
1. 为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
2. 为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
3. XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。
4. 含碳量高为什么一定要烧成灰再测试？
含碳量高，C大多数情况下是测不到的，那就在归一化的背景里面，其他元素实际含量是扣除C以后按100%归一的；含碳量高压片可能会不好压片，如果加入粘合剂那么就相当于进一步稀释了待测元素，检出限就提高了。所以一般含碳量高、含有机物的样品需要烧成灰，然后再测试。
学习资料
