
扫描隧道显微镜
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形貌、点扫、线扫、mapping 备注: 环境扫描测试的样品无需干燥,潮湿,含水样品可直接上机测试; 环境扫描由于真空度低,那分辨率也会一起降低,能谱准确性也会随着降低。
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形貌、点扫、线扫、mapping 备注: 环境扫描测试的样品无需干燥,潮湿,含水样品可直接上机测试; 环境扫描由于真空度低,那分辨率也会一起降低,能谱准确性也会随着降低。