SAXS项目简介：

说明：亚微观结构分析技术-SAXS测试分析是测试+分析一体化服务产品，根据样品信息和分析目的综合开发测试方法，从更专业的角度给到更加符合样品实际情况的分析报告。报告内容包括测试参数、测试方法、分析方法简介、分析结果和扩展资料。

技术简介：小角散射效益来自物质内部1～l00nm量级范围内电子密度的起伏，当一束极细的x射线穿过一超细粉末层时，经粉末颗粒内电子的散射，X射线在原光束附近的极小角域内分散开来，其散射强度分布与粉末粒度及分布密切相关。
20世纪初，伦琴发现了比可见光波长小的辐射。由于对该射线性质一无所知，伦琴将其命名为X射线 (X-ray)。到20世纪30年代，人们以固态纤维和胶态粉末为研究物质发现了小角度X射线散射现象。当X射线照射到试样上时，如果试样内部存在纳米尺度的电子密度不均匀区，则会在入射光束周围的小角度范围内（一般2=<6&ordm;）出现散射X射线，这种现象称为X射线小角散射或小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering），简写为SAXS 。其物理实质在于散射体和周围介质的电子云密度的差异。SAXS已成为研究亚微米级固态或液态结构的有力工具。

横坐标是散射峰的位置，纵坐标是散射峰的强度，这一点与XRD是类似的。纵坐标的绝对数值没有意义，只是表示相对的强度。
 对于横坐标，XRD的位置通常用角度ө或2ө标示，而SAXS的位置是用q标示的，q一般叫做散射矢量或者散射因子，q与ө有简单的换算关系 q = 4πsinө/λ。在SAXS中由于ө的数值变化范围很小，所以用q标示更方便。
 在XRD中，衍射峰对应的ө可以换算出对应的晶面间距，实际上就是样品中一定范围内的周期性长度。在SAXS中物理意义上是一样的，还是样品中一定范围内的周期性长度，只是由于ө值更小，对应的长度也就更大。通俗地讲，这些长度可以是粒径、孔径、层间距等等，甚至是一些不是通常结构尺寸意义的长度。
用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布。对于高分子材料，可测量高分子粒子或空隙大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周期、支链度、分子链长度的分析及玻璃化转变温度的测量。

SAXS测试方法：

SAXS制样：

粉末，封装到无X射线信号的聚酰亚胺胶带中压平；

薄膜或纤维，直接固定到样品架上；

液体，封装到聚酰亚胺管中，两端封口;   

设置参数：将样品架放入样品室进行抽真空，设置测试序列，包括样品坐标，测试时间后进行测试。

测试参数：具体以实际测试参数为准

仪器型号：德国Bruker Nanostar等

靶材：铜靶；                        

通量密度：1.7´107CPS/mm2；

探测器灵敏度：≤1光子/Pixel；         

动态范围：≥109CPS

散射矢量最小值：qmin≤0.0628nm-1 distance：60-670 mm。                

最大功率：30W；

电压电流：50 kV_0.6 mA              

测试范围：0.1 <q<2.5 nm-1（0.1°<2θ<3.2 °）